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泰思肯

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TESCAN MIRA

--

欧洲

  • 白金
  • 第19年
  • 生产商
  • 营业执照已审核
核心参数

仪器种类: 落地式/传统大型

电子枪种类: 热场发射

产地类别: 进口

二次电子图象分辨率: 1.0nm(30kV)

放大倍数: 2~1,000,000

加速电压: 200V-30kV (减速模式下可低至 50V)

背散射电子图像分辨率: 2.0nm@30kV

TESCAN MIRA 是 TESCAN 推出的第四代高性能扫描电子显微镜,配置有高亮度肖特基场发射电子枪,在TESCAN 的 Essence™ 操作软件的同一个窗口中实现了 SEM 成像和实时元素分析。这种结合大大简化了从样品中获取形貌和元素数据的过程,从而使得MIRA 成为质量控制、失效分析和实验室常规材料检测的有效分析解决方案。

TESCAN MIRA 具有创新的光学设计,确保在需要时可以随时无缝地选择成像或分析条件,而无需对镜筒内的任何元件重新进行机械对中;借助完全集成的 Essence™ EDS 软件,可以快速、轻松地从成像切换到分析操作模式,一键即可实现所有设置参数的更改。

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ü 完全集成的 TESCAN Essence™ EDS 分析平台,可在 Essence™ 软件的同一个窗口中实现 SEM 成像和实时元素分析;

ü TESCAN 独特的 无光阑光路设计及实时电子束追踪技术 (In-flight Beam Tracing™) ,可快速获得最佳的成像和分析条件;

ü 独特的大视野光路( Wide Field Optics™ )设计,可实现最小放大倍率低至 2 倍,因而无需额外的光学导航相机,即可轻松、精确的对样品进行导航;

ü 标配的 SingleVac™ 模式,不导电样品或电子束敏感样品无需喷镀即可在此模式下直接进行观察;直观的模块化 Essence™ 软件,无论用户的经验水平如何,均可轻松操作;

ü Essence™ 3D 防碰撞模型,可确保样品台和样品移动时,安装在样品室内探测器的安全性;

ü 可选配的镜筒内 SE BSE 探测器,以及电子束减速技术,更好的提升了低电压下的成像性能;

ü 标准分析平台,可选配集成最多种类的探测器和附件(如阴极荧光探测器,水冷背散射电子探测器或拉曼光谱仪等)。

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MIRA 的镜筒中增加了一个特殊的透镜,使得电子束斑尺寸更小,进而提升大束流下的分辨率。这个独特的透镜--中间镜 (Intermediate  Lens™) 结合电子束追踪技术(In-?ight Beam Tracing™),可确保操作者设定的束流值与真实作用在样品上的束流相一致。这对于需要大束流下进行的分析应用如EDS/EBSD/WDS等,以及必须在相同条件下进行重复实验或表征的需求尤其重要。



更多的探测器和附件

TESCAN MIRA  可以安装各类附件以满足特定的应用需求,同时还可以选配镜筒内 SE 和BSE 探测器以及电子束减速技术,进一步拓展了 MIRA 的分析能力,满足当前和未来在亚微米尺度的表征需求。选配镜筒内 SE 和 BSE 探测器后,即可同时获得包括样品室内SE、样品室内BSE、镜筒内SE及镜筒内BSE的4种不同衬度信号。电子束减速技术则可提升其成像能力,尤其是在低电压下的分辨率。



全新的 EssenceTM 电镜控制软件

采用 TESCAN Essence™ 多用户电镜操作软件,具有快速搜索、操作步骤撤销/重做和预设参数等功能,实现更高效的样品分析和表征。用户可以根据实际操作水平或特殊应用需求的不同在软件中自定义界面布局。另外,Essence™ 防碰撞模型软件虚拟出样品室内部,直观的显示样品室内的所有硬件的几何关系,样品台的大小和位置,以及样品和安装的其它附件。



创新的 SingleVac TM 模式

SingleVac™ 模式是 TESCAN MIRA 的标配功能,TESCAN 已为此模式预设了真空值,荷电样品无需喷镀也可以使用背散射电子探测器直接观察。同时还可以选配 UniVac™ 模式,该模式下可连续调节真空度最高至 700 Pa,用于极端放电、放气及电子束敏感样品的二次电子和背散射电子成像。


软件:

· 测量软件 , 公差测量软件

· 图像处理

· 预设参数

· 直方图及 LUT

· SharkSEM™ 基础版 ( 远程控制 )

· 3D 防碰撞模型软件

· 对象区域

· 光电联用

· 定时关机

· CORAL™ (用于生命科学的电镜模块)

· 自动拼图软件

· 样品观察

· TESCAN Flow™ ( 离线处理软件 )

根据实际配置和需求



  • 用户在使用扫描电镜过程中,通常需要对粉末微颗粒样品、晶相样品、医学组织细胞的几何扫描电镜呈像时多采用的是二次电子或者背散射电子,获取的图像都是二维图像,但是在很多时候对于表面不平整的样品我们需要了解它在Z方向上的衬度,例如断口样品的表面轮廓、粗糙度或者某一特征区域的高度等等。在TESCAN 扫描电镜上可以搭载3D测量功能,通过电子束的摇摆或者样品台的摇摆获得同一个位置两张或者三张不同角度的照片,利用三维重构算法实现扫描二维向三维的转换,从而对样品进行三维成像。它对于失效分析类似的工作具有很大的帮助。

    钢铁/金属 2017-11-22

  • 使用扫描电子显微镜,可观察不同植物孢子的表面结构特征。而使用高亮度肖特基晶体为电子源的场发射扫描电子显微镜,在高分辨率和低图像噪声方面的突出特点使之特别适合应用于植物孢子的细节观察与研究。本文中,采用TESCAN公司高分辨肖特基灯丝的MIRA3型场发射扫描电子显微镜(FE-SEM)对四种金鱼藻的孢子形貌进行了观察表征。

    生物产业 2017-11-22

  • 使用扫描电子显微镜,可观察不同植物孢子的表面结构特征。而使用高亮度肖特基晶体为电子源的场发射扫描电子显微镜,在高分辨率和低图像噪声方面的突出特点使之特别适合应用于植物孢子的细节观察与研究。本文中,采用TESCAN公司高分辨肖特基灯丝的MIRA3型场发射扫描电子显微镜(FE-SEM)对四种金鱼藻的孢子形貌进行了观察表征。

    生物产业 2017-11-22

  • 用户在使用扫描电镜过程中,通常需要对粉末微颗粒样品、晶相样品、医学组织细胞的几何扫描电镜呈像时多采用的是二次电子或者背散射电子,获取的图像都是二维图像,但是在很多时候对于表面不平整的样品我们需要了解它在Z方向上的衬度,例如断口样品的表面轮廓、粗糙度或者某一特征区域的高度等等。在TESCAN 扫描电镜上可以搭载3D测量功能,通过电子束的摇摆或者样品台的摇摆获得同一个位置两张或者三张不同角度的照片,利用三维重构算法实现扫描二维向三维的转换,从而对样品进行三维成像。它对于失效分析类似的工作具有很大的帮助。

    钢铁/金属 2017-11-22

售后服务承诺

保修期: 1年

是否可延长保修期:

现场技术咨询:

免费培训: 免费上海应用中心培训

免费仪器保养: 3月1次

保内维修承诺: 免费维修,更换零部件

报修承诺: 8小时响应,3天内到达现场

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泰思肯扫描电镜TESCAN MIRA的工作原理介绍

扫描电镜TESCAN MIRA的使用方法?

泰思肯TESCAN MIRA多少钱一台?

扫描电镜TESCAN MIRA可以检测什么?

扫描电镜TESCAN MIRA使用的注意事项?

泰思肯TESCAN MIRA的说明书有吗?

泰思肯扫描电镜TESCAN MIRA的操作规程有吗?

泰思肯扫描电镜TESCAN MIRA报价含票含运吗?

泰思肯TESCAN MIRA有现货吗?

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